REFERENTE:
Guido Paolicelli (guido.paolicelli@nano.cnr.it)
Area di interesse: APPLICAZIONI INDUSTRIALI HIGH-TECH; MICROSCOPIA; NANOTRIBOLOGIA
ATTIVITÀ TECNOLOGICA OFFERTA
Microscopia: Microscopia a scansione di sonda (Atomic Force Microscope – AFM e Scanning Tunneling Microscope – STM) applicata all’analisi di superfici ed interfacce dalla scala micrometrica sino a quella atomica. Oltre all’indagine morfologica questo tipo di analisi permette di ricavare informazioni sulle caratteristiche meccaniche, di conducibilita’ e di proprietà magnetiche delle superfici in esame con risoluzione laterale inferiore al nanometro.
Sono a disposizione diversi strumenti che si caratterizzano per le differenti condizioni ambientali in cui operano, cioè aria, liquido ed Vuoto e Ultra Alto Vuoto.
Caratterizzazione e crescita di materiali 2D: Esperienza nella deposizione e caratterizzazione delle proprietà meccaniche di materiali 2D quali il grafene, il MoS2 e h-BN.
DESCRIZIONE DELLA RICERCA CORRELATA
Nanotribologia: scopo dell’attività è lo studio dei processi complessi che governano i fenomeni di attrito sia a livello nanometrico sia alla micro-scala. I risultati del lavoro di ricerca vengono quindi applicati alla ottimizzazione delle condizioni di scorrimento e al controllo dei movimenti nei nano- e micro-meccanismi. A livello nanometrico, l’obiettivo principale è la valutazione delle forze di attrito fondamentali (canali di dissipazione dell’energia) e la risposta meccanica di nanomateriali come il grafene e altri sistemi a bassa dimensionalità. La sfida alla micro-scala è invece quella di comprendere e ottimizzare il comportamento tribologico delle interfacce di scorrimento in cui le strutture superficiali, i difetti e le condizioni ambientali giocano un ruolo importante.